Veillio Acquisition d'un module de microscopie à sonde locale (SPM)
Description
Acquisition d'un module de microscopie à sonde locale (SPM) s'intégrant dans un microscope électronique à balayage existant (SU3800 Hitachi) pour échantillon sous irradiation photonique
Publié le 15 mai 2026 Date limite de réponse 16 juin 2026, 12:00
Acheteur (1)
Université d'Artois
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