Description

Achat d'un Système EBSD (Electron Back-Scattered Diffraction) pour installation sur un Microscope Electronique à Balayage (MEB-FEG). Le laboratoire souhaite disposer d'un équipement de caractérisation par la technique EBSD capable à la fois d'analyse à des échelles fines de l'ordre de quelques dizaines de nanomètres et suffisamment rapide pour explorer des surfaces étendues. Il sera installé sur un MEB-FEG JEOL de type JSM-IT800LV.